Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия
Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев
Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом.
年:
1982
出版商:
Металлургия
語言:
russian
頁數:
632
文件:
PDF, 29.74 MB
IPFS:
,
russian, 1982